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M-MS. 修士(マテリアルサイエンス)・修士(材料科学) >
M-MS. 2018年度(H30) >

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完全登録情報レコード

ダブリン・コア・フィールド言語
contributor.author武井, 美久-
date.accessioned2019-07-09T01:13:28Z-
date.available2019-07-09T01:13:28Z-
date.issued2019-03-
identifier.urihttp://hdl.handle.net/10119/15970-
descriptionSupervisor: 村田 英幸en
description先端科学技術研究科en
description修士(マテリアルサイエンス)en
language.isojaen
subject有機EL素子en
subjectOLEDen
subjectフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析en
subjectFT-ICR IMSen
subject劣化解析en
subjectDetection of degradation productsen
titleフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴イメージング質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析en
type.niiThesis or Dissertationen
rights.textversionnoneen
language.iso639-2jpnen
contributor.alternativeたけい, みく-
description.thesistitleDetection of degradation products of OLED by Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Imaging Mass Spectrometryen
description.thesisauthorTakei, Miku-
出現コレクション:M-MS. 2018年度(H30) (Jun.2018 - Mar.2019)

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