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タイトル: Influence of backsheet materials on potential-induced degradation in n-type crystalline-silicon photovoltaic cell modules
著者: Yamaguchi, Seira
Yamamoto, Chizuko
Masuda, Atsushi
Ohdaira, Keisuke
発行日: 2019-11-06
出版者: IOP Publishing
誌名: Japanese Journal of Applied Physics
巻: 58
号: 12
開始ページ: 120901-1
終了ページ: 120901-3
DOI: 10.7567/1347-4065/ab4fd2
抄録: We investigated the influence of backsheet materials on potential-induced degradation (PID) in n-type crystalline-silicon (c-Si) photovoltaic (PV) cell modules. Silicon heterojunction PV cell modules and rear-emitter n-type c-Si PV cell modules were fabricated by using aluminum backsheets composed of poly ethylene terephthalate (PET)/aluminum/PET as well as typical backsheets. PID tests of the modules were performed by applying a negative bias in a dry environment (<2% relative humidity). Regardless of the types of cells, the modules with the aluminum backsheets showed smaller degradation. This indicates that aluminum backsheets reduce PID effects, and to alter backsheets may be a potential measure to reduce PID.
Rights: This is the author's version of the work. It is posted here by permission of The Japan Society of Applied Physics. Copyright (C) 2019 The Japan Society of Applied Physics. Seira Yamaguchi, Chizuko Yamamoto, Atsushi Masuda, and Keisuke Ohdaira, Japanese Journal of Applied Physics, 58(12), 2019, 120901. http://dx.doi.org/10.7567/1347-4065/ab4fd2
URI: http://hdl.handle.net/10119/16959
資料タイプ: author
出現コレクション:c10-1. 雑誌掲載論文 (Journal Articles)

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