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M-MS. 2004年度(H16) >
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http://hdl.handle.net/10119/3218
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タイトル: | 走査型プローブ顕微鏡の開発と表面相互作用分光法への応用 |
著者: | 大久保, 芳彦 |
著者(別表記): | おおくぼ, よしひこ |
キーワード: | 走査型トンネル顕微鏡、電圧印加非接触原子間力分光法 Scannning Tunneling Microscope, Noncontact Atomic |
発行日: | Mar-2005 |
記述: | Supervisor:富取 正彦 材料科学研究科 修士 |
タイトル(英語): | The development of the scanning probe microscope and the application to the surface interaction spectroscopy |
著者(英語): | Ohkubo, yoshihiko |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/3218 |
出現コレクション: | M-MS. 2004年度(H16) (Jun.2004 - Mar.2005)
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