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http://hdl.handle.net/10119/4163
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タイトル: | Interplay between Nonlinearity , Scan Speed, Damping, and Electronics in Frequency Modulation Atomic-Force Microscopy |
著者: | Gauthie, Michel Perez, Ruben Arai, Toyoko Tomitori, Masahiko. Tsukada, Masaru |
発行日: | 2002-09-16 |
出版者: | AMERICAN PHYSICAL SOCIETY |
誌名: | Physical Review Letters |
巻: | 89 |
号: | 14 |
開始ページ: | 146104-1 |
終了ページ: | 146104-4 |
DOI: | 10.1103/PhysRevLett.89.146104 |
抄録: | Numerical simulations of the frequency modulation atomic force microscope, including the whole dynamical regulation by the electronics, show that the cantilever dynamics is conditionally stable and that there is a direct link between the frequency shift and the conservative tip-sample interaction. However, a soft coupling between the electronics and the nonlinearity of the interaction may significantly affect the damping. A resonance between the scan speed and the response time of the system can provide a simple explanation for the spatial shift and contrast inversion between topographical and damping images, and for the extreme sensitivity of the damping to a tip change |
Rights: | Michel Gauthier, Ruben Perez, Toyoko Arai, Masahiko Tomitori, and Masaru Tsukada , Physical Review Letters, 89(14), 146104, 2002. Copyright 2002 by the American Physical Society. http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.89.146104 |
URI: | http://hdl.handle.net/10119/4163 |
資料タイプ: | publisher |
出現コレクション: | c10-1. 雑誌掲載論文 (Journal Articles)
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