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タイトル: Transport properties of field-effect transistors with thin films of C_<76> and its electronic structure
著者: Sugiyama, Hiroyuki
Nagano, Takayuki
Nouchi, Ryo
Kawasaki, Naoko
Ohta, Yohei
Imai, Kumiko
Tsutsui, Michiko
Kubozono, Yoshihiro
Fujiwara, Akihiko
発行日: 2007-11-26
出版者: Elsevier
誌名: Chemical Physics Letters
巻: 449
号: 1-3
開始ページ: 160
終了ページ: 164
DOI: 10.1016/j.cplett.2007.10.012
抄録: The C_<76> field-effect transistor (FET) showed n-channel normally-off like behavior with n-channel field-effect mobility, μ_n, of 3.9 × 10^<-4> cm^2 V^<-1> s^<-1>, and the highest on-off ratio, 125, among higher fullerenes FETs. The carrier transport in the C_<76> FET followed a thermally-activated hopping transport model. The normally-off like properties of C_<76> FET could be reasonably explained based on the electronic structure of thin films determined from photoemission spectroscopy.
Rights: NOTICE: This is the author's version of a work accepted for publication by Elsevier. Hiroyuki Sugiyama, Takayuki Nagano, Ryo Nouchi, Naoko Kawasaki, Yohei Ohta, Kumiko Imai, Michiko Tsutsui, Yoshihiro Kubozono, Akihiko Fujiwara, Chemical Physics Letters, 449(1-3), 2007, 160-164, http://dx.doi.org/10.1016/j.cplett.2007.10.012
URI: http://hdl.handle.net/10119/7863
資料タイプ: author
出現コレクション:c10-1. 雑誌掲載論文 (Journal Articles)

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