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2008年度 >
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http://hdl.handle.net/10119/8466
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| タイトル: | 微小サーマルプローブを用いた走査型二次元局所ゼーベック係数評価装置の開発 |
| その他のタイトル: | Development of two-dimensional scanning Seebeck micro-probe measurement system |
| 著者: | 中本, 剛 |
| 著者（別表記）: | NAKAMOTO, GO |
| キーワード: | 熱電変換材料
ゼーベック係数 |
| 発行日: | 10-Jun-2009 |
| 抄録: | 熱電材料における最も重要な物理量のひとつであるゼーベック係数の空間分布を測定するために、微小ゼーベックプローブを用いた走査型二次元ゼーベック係数評価装置の開発を行った。10μmの最小空間分解能を実現し、同時に測定プログラムも開発し測定の全自動化とゼーベック係数の空間分布の可視化を可能にした。この装置を用いて亜鉛－アンチモン系熱電材料の測定を行った結果、ゼーベック係数に空間分布が存在し、この分布は、結晶粒分布、つまり異方性を反映することを明らかにした。またビスマス－テルル系材料では、過剰テルル添加に伴い同一インゴット内でp型からn型への極性反転する様子を詳細に測定することに成功した。これらの結果は、この測定法が熱電材料の局所物性評価に有用であるだけではなく、従来のバルク測定では不可能な局所的な極微小な電子状態の変化をゼーベック係数の変化として検出する方法として様々な材料系への適用が期待できる。 |
| 記述: | 研究種目：基盤研究（Ｃ）
研究期間：2007～2008
課題番号：19560312
研究者番号：10283152
研究分野：工学
科研費の分科・細目：電気電子工学・電子・電気材料工学 |
| 言語: | jpn |
| URI: | http://hdl.handle.net/10119/8466 |
| 出現コレクション: | 2008年度 (FY 2008)
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記述 |
サイズ | 形式 |
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| 19560312seika.pdf | | 261Kb | Adobe PDF | 見る/開く |
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