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ダブリン・コア・フィールド言語
contributor.author大島, 義文en_US
date.accessioned2017-07-04T04:45:26Z-
date.available2017-07-04T04:45:26Z-
date.issued2017-06-02en_US
identifier.urihttp://hdl.handle.net/10119/14319-
description挑戦的萌芽研究en_US
description研究期間:2015~2016en_US
description課題番号:15K13622en_US
description研究者番号:80272699en_US
description研究分野:表面界面物性en_US
description.abstract透過型電子顕微鏡 (TEM) 像に強度輸送方程式を適用することで、異相界面の静電ポテンシャル分布の可視化、および、それに基づいたイオン拡散の様子を明らかにする目的で研究を推進した。静電ポテンシャル分布を得るため、アンダーフォーカス、インフォーカス、オーバーフォーカスの3枚のTEM像から、a-Ge膜/真空界面における静電ポテンシャル分を得ることに成功した。これを実現するため、ホワイトノイズの低周波数成分が強調されるという課題の解決、および、2相界面のTEM像という周期的境界条件が満たされていない像に強度輸送方程式を適用するための課題を解決することを行った。:In order to clarify the visualization of the electrostatic potential distribution at the interfaces of two different phases and find the local ion diffusion at the interface, intensity transport equations was applied to the transmission electron microscope (TEM) images. We succeeded in obtaining the electrostatic potential at the a-Ge film / vacuum interface from the three TEM images of under focus, in focus and over focus. Actually, we solved the problem that the low frequency component of white noise is emphasized in the TIE phase map by narrower region of interest, and also solved the problem that the intensity transport equation could not be applied to the image not satisfying the periodic boundary condition such as TEM image of two phase interface by mirroring method.en_US
format.extent270401 bytes-
format.mimetypeapplication/pdf-
language.isojpen_US
subject透過型電子顕微鏡en_US
subject位相情報en_US
subject静電ポテンシャルen_US
subjectイオン拡散en_US
title界面ポテンシャル逐次測定法の開発によるイオン拡散の可視化en_US
title.alternativeVisualization of ion diffusion process at interface by sequential measurement method of electrostatic potentialen_US
type.niiResearch Paperen_US
identifier.jtitle科学研究費助成事業研究成果報告書en_US
identifier.spage1en_US
identifier.epage4en_US
rights.textversionpublisheren_US
language.iso639-2jpnen_US
contributor.alternativeOshima, Yoshifumien_US
出現コレクション:2016年度 (FY 2016)

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